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Muestras EDXRF
Analizadores EDXRF

La tecnología de fluorescencia de rayos X ofrece uno de los métodos analíticos más simple, preciso y económico para la determinación cualitativa y cuantitativa de la composición elemental de la mayoría de los distintos tipos de materiales. Su versatilidad se debe a la capacidad de efectuar análisis de múltiples elementos – a partir de bajos niveles de partes por millón (ppm) a altas concentraciones de porcentaje en peso (% en peso) en elementos desde Berilio (Be) hasta Uranio (U) - de manera rápida y no destructiva, con escasa o ninguna preparación previa de la muestra. Es efectivo para medir sólidos, líquidos, polvos y aleaciones.

NEX QC
Analizador NEX QC

• Análisis no destructivos desde Na a U

• Sólidos, líquidos, polvos y películas

• Interfaz de pantalla táctil intuitiva

• Impresora integrada

• Gran relación rendimiento-precio

NEX QC+
NEX QC+

• Análisis no destructivos desde Na a U

• Tubo de 50kV

• Sólidos, líquidos, polvos y películas

• Interfaz de pantalla táctil intuitiva

• Impresora integrada

NEX CG
Analizador NEX CG

• Análisis no destructivos desde Na a U

• Sólidos, líquidos, polvos y películas

• Excitación polarizada para límites bajos

• Determinación cualitativa y cuantitativa

• Geometría de acoplamiento cartesiano

Espacio para el desencadenante de la información sobre herramienta. Espacio para el desencadenante de la información sobre herramienta.